超聲波顯微鏡 (SAT)C-SAM,材料無損檢測 參考價：面議
超超聲波顯微鏡 (SAT)C-SAM,材料無損檢測：聲波顯微鏡 (SAT)是Scanning Acoustic Tomography 的簡稱，又稱為C-SAM ...
半導體材料微結構分析與評價 參考價：面議
廣電計量提供半導體材料微結構分析與評價服務,提供半導體材料元素成分分析,結構分析,微觀形貌分析測試服務，CNAS資質認可,幫助客戶全面了解半導體材料理化特性.
雙束掃描電子顯微鏡檢測,材料微觀分析 參考價：面議
雙束掃描電子顯微鏡（DB-FIB）是將聚焦離子束和掃描電子束集成在一臺顯微鏡上，再加裝氣體注入系統(tǒng)（GIS）和納米機械手等配件，從而實現(xiàn)刻蝕、材料沉積、微納加工...
離子研磨測試,材料CP檢測 參考價：面議
電子元器件失效分析經常用到的檢查分析方法簡單可以歸類為無損分析、有損分析。有損分析就是對器件進行各種微觀解剖分析，其首要要求就是在避免人為損傷的前提下，展現(xiàn)內部...
材料?致性評價及熱力學分析 參考價：面議
材料及其制品都是一在一定溫度環(huán)境下使用的，在使用過程中，將對不同的溫度做出反應，表現(xiàn)出不同的熱物理性能，即為材料的熱血性能。材料的熱學性能主要包括熱容、熱膨脹、...
腐蝕機理與疲勞測試,元件材料檢測 參考價：面議
廣電計量腐蝕機理與疲勞測試,元件材料檢測為軌道交通、電廠、鋼鐵設備生產廠、經銷商或代理商提供交流阻抗，極化曲線，電化學噪?，疲勞試驗。
金屬與高分子材料失效分析 參考價：面議
金屬材料的失效形式及失效原因密切相關，失效形式是材料失效過程的表觀特征，可以通過適當的方式進行觀察。而失效原因是導致構件失效的物理化學機制，需要通過失效過程調研...
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