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圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 過濾器底座規格 F20 系列過濾器可以從纖維出口插入和移除。　型號：FA-100C-K 型號：FA-150EN...

seiwaopt鹵素光纖光源FA-100C/FA-150EN 過濾器底座規格 F20 系列過濾器可以從纖維出口插入和移除。　型號：FA-100C-K 型號：FA...

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YP-250I電子元器件用表面檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I半導體芯片檢測用表面檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I液晶面板檢測用目視檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I液晶屏幕檢測用目視檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I半導體行業用目視檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I晶圓表面瑕疵檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I高照度鹵素強光燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-150I表面檢查燈用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

YP-150I目視檢查燈用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

YP-150I鹵素強光燈用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

日本yamada晶圓瑕疵目視檢查燈YP-150I用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

日本yamada電子元件目視檢查燈YP-150I用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

moritex鹵素光源MHF-V501-DSC緊湊、多功能、高性價比的50W鹵素光源。 這是鹵素光源系列中成本低、壽命最長的型號。

moritex鹵素光源MHF-V501-DSO緊湊、多功能、高性價比的50W鹵素光源。 這是鹵素光源系列中成本低、壽命最長的型號。

moritex鹵素光源MHF-V501-SC在額定電壓下點亮大量燈，燈絲到期前的時間呈正態分布，平均壽命是考慮到峰值時間和剩余速率達到50%的時間來確定的。

moritex鹵素光源MHF-V501-SO緊湊、輕量、低價格配備各種安全功能符合環保型 RoHS 指令

moritex鹵素光源MHF-V501緊湊、多功能、高性價比的50W鹵素光源。 這是鹵素光源系列中成本低、壽命最長的型號。