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上海昊量光電設備有限公司
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詳細摘要： 薄膜厚度均勻度測量系統-MPROBE60（精確定位測量）MProbe60是一站式系統，專為研發中心和小型制造而設計
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詳細摘要： Xper-IP激光干涉膜厚測量儀Xper-IP是基于公司的光譜干涉技術的一款激光干涉膜厚儀，是一種非接觸式、無損的、且快速的光學薄膜厚度測量設備
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詳細摘要： KALEO測量工作站【KALEOMTF簡介】KaleoMTF測量儀結合了與傳函儀的功能，是檢測鏡片組、鏡頭和光學系統性能的工具，可適用于鏡頭設計、原型制作或生產...
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詳細摘要： KALEOIR系列紅外光學測試臺【KALEOIR套件簡介】KaleoIR系列紅外光學測試臺使紅外鏡頭的質量監控變得快速有效，只需單次圖像采集即可獲得全部空間頻率...
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詳細摘要： 高精度測量儀便攜式、高精度光學傳遞函數（MTF）測量儀！法國公司高精度MTF測量儀可以提供全面的鏡頭測試：軸上MTF
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詳細摘要： 光腔衰蕩光譜方法（CRDS，CavityRing-DownSpectroscopy）是一種基于高精細度諧振腔的高靈敏度探測技術，主要用于測量各種反射率大于99%...
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產品型號：所在地：更新時間：2024-02-06 在線留言
詳細摘要： 非接觸式金屬膜厚測量儀昊量光電新推出用于導電薄膜和薄金屬層膜厚測量的非接觸式金屬膜厚測量儀EddyCusTFSeries，這款金屬膜厚測量儀可以非接觸式實時測量...
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詳細摘要： 高分辨率激光便攜式、高分辨率、高動態范圍激光干涉儀！超分辨剪切干涉儀(High-resolution)是一款便攜式、高靈敏度、高精度的
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